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提升晶片開發時效 掌握物聯網核心優勢 [成果新知]
種類:其他公告  發布單位:技術處  發布日期:2018-10-12 15:59
單位名稱:工業技術研究院
成果名稱:功耗與熱感知電子系統層級平台技術

物聯網時代來臨,晶片居於核心地位,其開發速度與品質,左右著智慧終端產品的價值。隨著電子產品複雜度不斷提高,晶片開發從規格制定、架構設計、電路模擬、晶片布局到完成晶圓製造,整體開發時程日益增長,一般需時1.5~2年以上。在設計階段若沒有確實以軟體應用情境的角度完成系統模擬與驗證,待晶片送至客戶端才發現過熱、耗電等缺陷,將造成極大損失。

在經濟部技術處科技專案支持之下,工研院針對全系統軟硬整合模擬提出新方案,開發「功耗與熱感知電子系統層級平台技術」,為目前唯一支援情境導向的功耗與熱分析系統平臺, 可協助設計者在開發初期快速評估晶片中不同區塊於不同應用情境下的耗電與散熱情況,及早驗證與強化系統晶片效能,確保晶片在功能、性能、耗能等方面能夠滿足使用需求,避免晶片使用時耗電與過熱,可提前發現問題進行改善,有效縮短整體開發時程。

目前協助IC製造服務龍頭廠商發表業界第一套系統層級協同設計平臺,建立跨領域系統功率分析新流程,並與供應鏈夥伴共同推動標準制定,加速半導體產業技術提升。未來將持續與更多產業進行合作,加速晶片產品開發並提升技術競爭力。

完整閱讀:【科技專案成果】提升晶片開發時效 掌握物聯網核心優勢

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更新日期:2017-08-08

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