:::
技術與專利授權資訊
114年度工研院量測技術發展中心形貌光學量測、顯示器LED檢測及其他等相關研發成果讓與暨專屬授權案(智慧科技領域)
訊息類別：其他
執行單位：工業技術研究院
領域別：智慧科技
發布日期：2025-04-17 17:00
1. 法人機構名稱：財團法人工業技術研究院。
2. 方式：讓與暨專屬。
3. 專利共計11件。
相關檔案
114年度工研院量測技術發展中心形貌光學量測、顯示器LED檢測及其他等相關研發成果讓與暨專屬授權案(智慧科技領域)(ods)
114年度工研院量測技術發展中心形貌光學量測、顯示器LED檢測及其他等相關研發成果讓與暨專屬授權案(智慧科技領域)(xlsx)
點閱數：
103
